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在使用厚度測(cè)量?jī)x器的時(shí)候，在正常的操作過(guò)程中，有時(shí)會(huì)發(fā)現(xiàn)測(cè)量的數(shù)據(jù)與實(shí)際的要求有所偏差，或者是測(cè)量次數(shù)多了，數(shù)據(jù)的比較會(huì)發(fā)生小許的變化，這是什么原因造成的呢？針對(duì)用戶的問(wèn)題，南北潮商城在實(shí)際的經(jīng)驗(yàn)以及和客戶的溝通中總結(jié)一下9點(diǎn)影響厚度測(cè)量?jī)x器精準(zhǔn)度的因素供各位參考。

一、基體厚度

在進(jìn)行覆層厚度測(cè)量時(shí) ，對(duì)被測(cè)樣品的薄厚有基本的要求，要給出一個(gè)基體的既定最小厚度值，能夠全部將探頭的磁場(chǎng)包裹在被測(cè)樣品的金屬中。 所給出的既定最小厚度值與被測(cè)樣品的性質(zhì)有關(guān)，大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響，不用再修整所測(cè)量的結(jié)果。 如果基體的厚度達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)，所檢測(cè)到的數(shù)據(jù)就會(huì)有偏差，就不是最精準(zhǔn)的，這種情況下就需要使用同材質(zhì)的物體緊貼在被測(cè)樣品上再進(jìn)行測(cè)量。 每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。

二、邊界距離

當(dāng)探頭與被測(cè)樣品邊界 、孔眼 、空腔 、其他截面變化處的距離小于規(guī)定的邊界距離時(shí)， 由于渦流載體截面不夠?qū)a(chǎn)生測(cè)量誤差。 因此，在靠近被測(cè)樣品邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。 如果必須測(cè)量該點(diǎn)的覆層厚度時(shí)，需預(yù)先在相同條件的無(wú)覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn)。

三、曲率半徑

被測(cè)樣品的曲率半徑對(duì)測(cè)量結(jié)果有影響 。 隨著被測(cè)樣品曲率半徑的減小， 對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響明顯增大，因

此，在彎曲樣品的表面上進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

四、表面粗糙度

粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差 ，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。 在粗糙表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測(cè)量值必須進(jìn)行多次測(cè)量才行。 顯而易見(jiàn)，不論是基體或是覆層，越粗糙，測(cè)量值越不可靠。 基體金屬和覆蓋層的粗糙度越大，對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響就越大。 為獲得可靠的測(cè)量數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度 Ra 應(yīng)小于覆層厚度的 5%。

五、表面清潔度 

應(yīng)去除表面的雜質(zhì) 、 油污等 ， 以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面能夠直接接觸。

六、探頭壓力

探頭置于試件上 ，所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。 理論上講，探頭進(jìn)行檢測(cè)時(shí)所使用的力應(yīng)該是一成不變的， 但實(shí)際測(cè)量過(guò)程中由于操作者的不同或操作者的經(jīng)驗(yàn)不足，往往不能嚴(yán)格保持檢測(cè)時(shí)所使用的力一成不變。 因此，改變力應(yīng)盡量最小化，這樣對(duì)于軟的覆蓋層才不會(huì)出現(xiàn)變形情況，導(dǎo)致檢測(cè)數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。 需要時(shí)，可以在探頭以及被檢測(cè)物體之間增加具有相當(dāng)厚度的絕緣的硬性薄膜， 在檢測(cè)結(jié)果中減掉薄膜的厚度就能夠得到想要的結(jié)果。

七、探頭方向

探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響 。 在測(cè)量過(guò)程中，應(yīng)當(dāng)使探頭與被測(cè)樣品表面保持垂直。

八、磁場(chǎng)

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。 測(cè)量應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場(chǎng)附近開(kāi)展，根據(jù)檢測(cè)儀器的性能、殘存的剩磁可能導(dǎo)致或多或少的測(cè)量誤差， 但是結(jié)構(gòu)鋼、 深沖成形鋼板等一般不會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。

九、覆層材料中的鐵磁成分和導(dǎo)電成分

磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響。 為了避免受到熱處理和冷加工因素的影響， 應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。