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菲希爾x射線分析儀介紹

菲希爾x射線優(yōu)點

一個軟件實現(xiàn)鍍層厚度測量和材料分析兩個功能

擴展統(tǒng)計功能。例如，測量結果可以記錄并轉為SPC圖表顯示

圖像識別：WinFTM可以自行查找預設的測量位置

基于基本參數(shù)分析的無標準片測量：在手邊樣本組成未知的情況下實現(xiàn)精確的測量結果

距離控制測量（DCM）：無需移動軸即可保持與不規(guī)則形狀樣品的正確測量距離。只需將攝像頭聚焦到樣品表面即可。剩下的由WinFTM軟件完成。這要比移動軸快。此外，沒有軸與樣品碰撞的風險

測量質(zhì)量：我們的儀器可以判斷您的測量質(zhì)量。錯誤地選擇了錯誤的測量任務或測量了錯誤的樣品？您的FISCHERSCOPE儀器會提醒您

任務程式：只需單擊一下，幾乎可以對WinFTM軟件中執(zhí)行的所有操作進行編程并執(zhí)行。例如，一項任務可以自動測量多個合金樣品。 X射線儀器將XY工作臺移動到樣品位置，加載每個合金特定的測量條件，最后根據(jù)您的需要生成測試報告