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   (1)用指針萬(wàn)用表的×1Ω或×10Ω擋，由測(cè)量過(guò)程中電容的充、放電導(dǎo)致的指針擺動(dòng)幅度，與良好電容對(duì)比，大致判斷其電容量，有無(wú)容量減小現(xiàn)象。同時(shí)可測(cè)出電容的漏電阻值的大小，當(dāng)黑表筆接正極時(shí)，所測(cè)得的電阻值（表針?lè)€(wěn)定下來(lái)以后）很大，應(yīng)為數(shù)百千歐姆級(jí)；紅表筆接正極時(shí)，所測(cè)電阻值較小，應(yīng)為數(shù)十千歐姆級(jí)。若電阻值較小，說(shuō)明電容有較大漏電電流，質(zhì)量變差。若與正常電容的測(cè)量結(jié)果相比，表針擺動(dòng)的幅度太小，說(shuō)明容量變小；若正、反向漏電電阻值均太小（或?yàn)榱悖f(shuō)明電容已嚴(yán)重漏電或短路。二者都說(shuō)明電容已經(jīng)變壞，須予更換了。

    (2)用專用數(shù)字電容表，檢測(cè)電容量，與標(biāo)稱容量相對(duì)比，其誤差一般應(yīng)在15%以內(nèi)，若電容量過(guò)小，說(shuō)明電容有失容現(xiàn)象，需要更換了。

    需要說(shuō)明的是，用萬(wàn)用表或數(shù)字電容表，僅能對(duì)電容量進(jìn)行測(cè)量判斷。因?yàn)閮x表內(nèi)部的供電電壓極低，遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能達(dá)到電容的標(biāo)稱電壓值，對(duì)漏電流（漏電阻值）和電容的引出電極氧化原因造成的接觸電阻變大等故障，則無(wú)能為力了。

    電解電容的損壞原因如下。

    1)電解電容的容量減小現(xiàn)象，是因?yàn)槭褂媚晗揲L(zhǎng)，再加上環(huán)境溫度高的原因，使內(nèi)部電解液逐漸蒸發(fā)、干涸所造成的，最后因容量“縮水”而失效。對(duì)使用年限超過(guò)三年以上的變頻器，懷疑故障與電容有關(guān)時(shí)，一定要檢測(cè)電容的容量值。

    2)若短期內(nèi)運(yùn)行，即出現(xiàn)電容損壞，則可能為電容兩端供電電壓過(guò)高（由電源電壓過(guò)高或負(fù)載電機(jī)超速發(fā)電造成）和電容本身質(zhì)量不佳所引起，應(yīng)充分注意變頻器本身（元件質(zhì)量差）和外部環(huán)境（供電電壓高或負(fù)載電機(jī)反發(fā)電）這兩個(gè)因素。當(dāng)整流模塊擊穿損壞后，使電容兩端出現(xiàn)交流電壓，造成反向漏電電流加大，電容本身變?yōu)橐粋€(gè)像電阻器件一樣的能耗元件，導(dǎo)致燒毀和炸裂，遇有電容炸裂故障，不能忽略對(duì)整流模塊的檢測(cè)。

    實(shí)際電路中，因?yàn)閮?chǔ)能電容是兩只串聯(lián)的，電容兩端串聯(lián)有均壓電阻（也提供失電后的放電作用），有一只斷路時(shí)，會(huì)導(dǎo)致電容兩端電壓上升，有可能超出電容的安全工作區(qū)而損壞。遇有電容損壞時(shí)，也應(yīng)該同時(shí)注意對(duì)均壓電阻的檢查。

    3)有些電容用萬(wàn)用表或數(shù)字電容表測(cè)量是好的，但安裝以后，施加530V直流電壓以后，因漏電嚴(yán)重導(dǎo)致發(fā)熱、炸裂，是質(zhì)量差、耐壓值不足、漏電嚴(yán)重所引起。

    4)電解電容的“隱性失效”，指測(cè)量不出什么問(wèn)題，一般的檢測(cè)手段無(wú)能為力，但是不能正常使用的電容器。電解電容在運(yùn)行中，長(zhǎng)時(shí)間經(jīng)受數(shù)百赫茲的大電流充、放電沖擊，有可能造成電極引線因氧化產(chǎn)生接觸電阻，測(cè)量過(guò)程中此“接觸電阻”不會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響，測(cè)得的電容量還是正常的，也無(wú)漏電現(xiàn)象。但接于電路中，會(huì)造成因充、放電電流減小導(dǎo)致的電容量下降，使直流回路的電壓跌落，變頻器不能正常工作。若檢測(cè)限流電阻與充電接觸器和整流模塊均無(wú)問(wèn)題，就要將檢修重點(diǎn)引入“表現(xiàn)正常”的電容上來(lái)了。